Nuestros compañeros Juan Antonio Barceló y Carlos Castro, galardonados con el premio SeMA a mejor artículo 2022
Cada año, la Sociedad Española de Matemática Aplicada (SeMA) premia el mejor artículo publicado en la revista SeMa Journal.
En esta edición, el artículo galardonado ha sido «Numerical approximation of the scattering amplitude in elasticity», SeMA Journal volume 79, pages 549-570 (2022) elaborado por los profesores Juan Antonio Barceló y Carlos Castro (Dpto. de Matemática e Informática Aplicadas a las Ingenierías Civil y Naval) de la Universidad Politécnica de Madrid.
Los profesores Carlos Castro (izqda.) y Juan Antonio Barceló (dcha.)
Acceso al SeMA Journal: https://www.springer.com/journal/40324
Los autores galardonados recibirán un premio de 1500 euros y diploma acreditativo del premio. Además se les invitará a participar en la ceremonia de entrega de premios de la próxima Escuela Jacques-Louis Lions Hispano Francesa sobre Simulación Numérica en Física e Ingeniería (XX EHF) que se celebrará en Barcelona y a dar una charla en el mismo evento.
Sobre el artículo galardonado
En este trabajo los autores proponen un método numérico para aproximar las «amplitudes de scattering» del sistema de la elasticidad lineal con un potencial matricial no constante, concentrado en una región del espacio. Estas amplitudes son esencialmente las perturbaciones que recibirían unos sismógrafos situados en la lejanía al lanzar diferentes ondas incidentes. Cada potencial perturba de manera diferente estas ondas, como si se tratase de una especie de huella dactilar, y el objetivo es simular estas perturbaciones sin necesidad de hacer experimentos físicos. La principal dificultad matemática está en aproximar numéricamente una ecuación de tipo Lippmann-Schwinger vectorial que aparece al describir los desplazamientos del medio provocados por las ondas incidentes. Recientemente, como continuación de este trabajo y junto a otros colaboradores de la UPM, los autores han abordado el conocido como problema de scattering inverso en el que se trata de dar la vuelta al proceso, es decir, determinar el potencial a partir de esas «amplitudes de scattering» (o si se prefiere, huellas dactilares).
Acceso al artículo galardonado: https://link.springer.com/article/10.1007/s40324-021-00270-1